單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測(cè)定儀還可以根據(jù)客戶(hù)的需求配上其他的工裝模具來(lái)測(cè)試其他材料的拉伸、三點(diǎn)彎曲、四點(diǎn)彎曲、剪切、剝離、撕裂、穿刺（刺破）等各種力學(xué)性能測(cè)試?？梢跃芮笕】估?、抗拉強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、初始模量、斷裂伸長(zhǎng)率、應(yīng)力應(yīng)變、屈服強(qiáng)度的測(cè)定，以及些產(chǎn)品的特殊試驗(yàn)。三閉環(huán)測(cè)控可以實(shí)現(xiàn)反復(fù)循環(huán)和低周疲勞測(cè)試等?？煽啃愿?，并且容易操作，同時(shí)滿(mǎn)足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多種標(biāo)準(zhǔn)要求，并可根據(jù)用戶(hù)需求編輯試驗(yàn)軟件，定制試驗(yàn)附具，是各類(lèi)產(chǎn)品和材料制造商、高等校、科研單位和各產(chǎn)品質(zhì)量部門(mén)的精密儀器。

單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測(cè)定儀采用鋁合金外殼，機(jī)身輕巧，外型美觀. 主機(jī)剛性好，采用高精度、預(yù)加載的滾珠絲杠，提高了傳動(dòng)效率和位移精度。采用高強(qiáng)度光杠固定上橫梁及工作臺(tái)面，構(gòu)成高剛性的框架結(jié)構(gòu)。

單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測(cè)定儀技術(shù)指標(biāo)：

1. 產(chǎn)品規(guī)格：  HY-230

2． 精度等級(jí)：  0.5級(jí)

3． 負(fù)荷：1N 5N 10N 20N 50N 100N 200N 500N 1000N 2000N(任選或多選）

4. 采集頻率：2000Hz（可按需定制）

5. 位移分辨率：0.0001mm

6. 變形分辨率：0.0001mm

7． 有效測(cè)力范圍：0.1/100-100;

8． 試驗(yàn)力分辨率，負(fù)荷±500000碼；內(nèi)外不分檔，且全程分辨率不變。

9． 有效試驗(yàn)寬度：120mm

10． 有效試驗(yàn)空間：300mm

11． 試驗(yàn)速度:：0.001~300mm/min(任意調(diào))

12. 速度精度：示值的±0.5%以?xún)?nèi)；

13．位移測(cè)量精度：示值的±0.5%以?xún)?nèi)；

14．變形測(cè)量精度：示值的±0.5%以?xún)?nèi)；

15．應(yīng)力控速率范圍： 0.005%～6％FS/S

16．應(yīng)力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時(shí)，為設(shè)定值的±1%以?xún)?nèi)；速率≥0.05％FS/S時(shí)，為設(shè)定值的±0.5%以?xún)?nèi)；

17．應(yīng)變控速率范圍： 0.002%～6％FS/S

18．應(yīng)變控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時(shí)，為設(shè)定值的±2%以?xún)?nèi)；速率≥0.05％FS/S時(shí)，為設(shè)定值的±0.5%以?xún)?nèi)；

19. 恒力/位移/變形測(cè)量范圍：0.5％～100FS

20．恒力/位移/變形測(cè)量精度：設(shè)定值＜10％FS時(shí), 為設(shè)定值的±1%以?xún)?nèi)； 設(shè)定值≥10％FS時(shí), 為設(shè)定值的±0.1%以?xún)?nèi)；

21．試臺(tái)升降裝置：快/慢兩種速度控制，可點(diǎn)動(dòng)；

22．試臺(tái)安全裝置：電子限位保護(hù)

23．試臺(tái)返回：手動(dòng)可以高速度返回試驗(yàn)初始位置，自動(dòng)可在試驗(yàn)結(jié)束后自動(dòng)返回；

24．試驗(yàn)定時(shí)間自動(dòng)停車(chē),試驗(yàn)定變形自動(dòng)停車(chē),試驗(yàn)定負(fù)荷自動(dòng)停車(chē)

25．載保護(hù)：過(guò)大負(fù)荷10%時(shí)自動(dòng)保護(hù)；

26. 自動(dòng)診斷功能，定時(shí)對(duì)測(cè)量系統(tǒng)、驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)進(jìn)行過(guò)載、過(guò)壓、過(guò)流、負(fù)荷等檢查，出現(xiàn)異常情況立即進(jìn)行保護(hù)

27．電源功率： 400W

28．主機(jī)重量： 40kg

29. 電源電壓: 220V（單相）

30. 主機(jī)尺寸：430*315*855mm