ICP-OES MICS DV雙向觀測(cè)全譜直讀型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀，是博維儀器公司基于多年光譜類(lèi)儀器開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)，推出的一款全新一代的ICP-OES產(chǎn)品。利用性能可靠的集成固態(tài)射頻電源、穩(wěn)固的恒溫二維分光系統(tǒng)、科研級(jí)制冷防溢出CCD檢測(cè)系統(tǒng)，結(jié)合國(guó)內(nèi)*的光譜校正技術(shù)，將ICP-OES  MICS的操作性、靈活性和可靠性發(fā)揮的乎想象，日常操作和維護(hù)非常簡(jiǎn)單，更適合國(guó)內(nèi)一線分析實(shí)驗(yàn)的操作要求，實(shí)現(xiàn)小型化(Miniatorization)、便捷化(Intelligentize）、智能化(Convenience）的光譜儀（Spectrometer）。
    ICP-OES  MICS DV (Inductively Coupled Plasma,ICP 雙向觀測(cè)全譜直讀型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀) ，是目前無(wú)機(jī)元素分析的主流產(chǎn)品，它具有光譜干擾小，穩(wěn)定性好、分析快速等優(yōu)點(diǎn)，是無(wú)機(jī)元素分析領(lǐng)域*常用的手段。可廣泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)、食品安全、地質(zhì)礦產(chǎn)、冶金、有色金屬、稀土、化工、臨床醫(yī)藥、石油制品、半導(dǎo)體、農(nóng)業(yè)研究等各個(gè)領(lǐng)域。用于測(cè)定不同物質(zhì)中的常量、微量、痕量元素含量，可用于樣品中元素的定性、半定量及定量分析，檢出限可達(dá)十億分級(jí)。

等離子火焰實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)