N8100A多通道充放電測試儀,提供級電容全參數(shù)測試多種測試方法,用戶可根據(jù)需要靈活選擇。N8100A上位機軟件支持平臺化測試應用,用戶可根據(jù)測試工藝和測試流程自行定制測試文件,測試結(jié)果可方便存儲和導出。導出格式可支持數(shù)據(jù)庫、EXCEL、JPG文件。適用于級電容器研發(fā)、生產(chǎn)與品質(zhì)檢測。
產(chǎn)品特點 ■ 恒流充電、恒流放電、恒壓充電、恒壓放電、循環(huán)壽命、充電容量,放電容量、DCIR、漏電流,自放電等全參數(shù)測試 ■ 采樣間隔可設,*小可低于10ms,測量結(jié)果更 ■ 3U機框可容納30通道,高空間利用率 ■ 功能豐富的上位軟件,支持生產(chǎn)分選功能 ■ 每通道對應狀態(tài)指示燈,分選更方便 ■ 強大的數(shù)據(jù)存儲與分析功能 ■ 百兆以太網(wǎng)通訊 ■ 12VDC供電 ■ 可插入N8000測控主機使用,也可獨立使用 ■ NXI槽位數(shù):2 功能與優(yōu)勢 容量測量 等效串聯(lián)內(nèi)阻(DCIR)測試 N8100主要用于生產(chǎn)、品質(zhì)檢測等快速測試場合,因此采用動態(tài)電流法(10ms脈沖法)來測試內(nèi)阻,可滿足絕大部分客戶測試需求。 動態(tài)電流法直流等效內(nèi)阻計算公式: 壽命測試 N8100可通過重復充放電循環(huán)測試,測量級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線,用戶可獲取級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結(jié)果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。 四線制測量功能 級電容測試過程中需要輸出較大電流,測試線將會引入較大電壓降(線損),影響測量精度。N8100全系列型號均采用四線制接線方式,直接采集級電容兩端電壓而避免因測試線線損帶來的電壓誤差,從而確保測量精度。 測試夾(治)具 考慮到不同規(guī)模的測試應用場景,NGI提供兩種測試夾(治)具供用戶選擇:開爾文夾、12通道治具。兩種測試夾(治)具均為四線制接法。 測試軟件 (1) N8100測試軟件采用平臺化設計,用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測試流程。 (2) 類Office界面風格,各通道獨立顯示,支持電壓電流波形繪制,可以表格形式顯示結(jié)果等諸多元素,使得這款*軟件在具備強大測試功能同時,兼具美觀易用優(yōu)點。 (3) 設計有功率限制電路,反應時間極短,可有效保護負載不會因為過功率而損壞。 (4) 采用全屏蔽技術,對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性,有效提高了負載抗干擾能力。 產(chǎn)品尺寸
■ 恒流充電、恒流放電、恒壓充電、恒壓放電、循環(huán)壽命、充電容量,放電容量、DCIR、漏電流,自放電等全參數(shù)測試
■ 采樣間隔可設,*小可低于10ms,測量結(jié)果更
■ 3U機框可容納30通道,高空間利用率
■ 功能豐富的上位軟件,支持生產(chǎn)分選功能
■ 每通道對應狀態(tài)指示燈,分選更方便
■ 強大的數(shù)據(jù)存儲與分析功能
■ 百兆以太網(wǎng)通訊
■ 12VDC供電
■ 可插入N8000測控主機使用,也可獨立使用
■ NXI槽位數(shù):2
容量測量
其他推薦產(chǎn)品
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N8100A多通道充放電測試儀,提供級電容全參數(shù)測試多種測試方法,用戶可根據(jù)需要靈活選擇。N8100A上位機軟件支持平臺化測試應用,用戶可根據(jù)測試工藝和測試流程自行定制測試文件,測試結(jié)果可方便存儲和導出。導出格式可支持數(shù)據(jù)庫、EXCEL、JPG文件。適用于級電容器研發(fā)、生產(chǎn)與品質(zhì)檢測。
■ 恒流充電、恒流放電、恒壓充電、恒壓放電、循環(huán)壽命、充電容量,放電容量、DCIR、漏電流,自放電等全參數(shù)測試
■ 采樣間隔可設,*小可低于10ms,測量結(jié)果更
■ 3U機框可容納30通道,高空間利用率
■ 功能豐富的上位軟件,支持生產(chǎn)分選功能
■ 每通道對應狀態(tài)指示燈,分選更方便
■ 強大的數(shù)據(jù)存儲與分析功能
■ 百兆以太網(wǎng)通訊
■ 12VDC供電
■ 可插入N8000測控主機使用,也可獨立使用
■ NXI槽位數(shù):2
容量測量
等效串聯(lián)內(nèi)阻(DCIR)測試
N8100主要用于生產(chǎn)、品質(zhì)檢測等快速測試場合,因此采用動態(tài)電流法(10ms脈沖法)來測試內(nèi)阻,可滿足絕大部分客戶測試需求。
動態(tài)電流法直流等效內(nèi)阻計算公式:
壽命測試
N8100可通過重復充放電循環(huán)測試,測量級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線,用戶可獲取級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結(jié)果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。
四線制測量功能
級電容測試過程中需要輸出較大電流,測試線將會引入較大電壓降(線損),影響測量精度。N8100全系列型號均采用四線制接線方式,直接采集級電容兩端電壓而避免因測試線線損帶來的電壓誤差,從而確保測量精度。
測試夾(治)具
考慮到不同規(guī)模的測試應用場景,NGI提供兩種測試夾(治)具供用戶選擇:開爾文夾、12通道治具。兩種測試夾(治)具均為四線制接法。
測試軟件
(1) N8100測試軟件采用平臺化設計,用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測試流程。
(2) 類Office界面風格,各通道獨立顯示,支持電壓電流波形繪制,可以表格形式顯示結(jié)果等諸多元素,使得這款*軟件在具備強大測試功能同時,兼具美觀易用優(yōu)點。
(3) 設計有功率限制電路,反應時間極短,可有效保護負載不會因為過功率而損壞。
(4) 采用全屏蔽技術,對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性,有效提高了負載抗干擾能力。