產品簡介
HCP421SV-MPS Instec的真空型mini臺式探針臺系列是可從外部移動探針進行點針的桌上型探針臺,涵蓋多型號、多溫度范圍。同時允許溫控、探針電測試、光學觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔,亦可內充入氮氣等保護氣體,來防止樣品在負溫下結霜,或高溫下氧化。
功能特點
mimi型溫控探針臺,可集成到各種光學設備
可編程控溫,涵蓋-190℃~1000℃(具體由型號而定)
適用 10 mm ~ 50 mm 晶圓和器件
可抽真空的腔體,亦可充入保護氣體使用
獨立的四個探針,可從設備外部移動探針進行點針
可從溫控器或電腦軟件控制,可提供軟件SDK
*可做定制或改動,詳詢上海恒商
溫控參數
溫度范圍
-190℃~400℃(負溫需配液氮制冷)
加熱塊材質
銀
傳感器/溫控方式
升溫速率
100Ω鉑RTD / PID控制(含LVDC降噪電源)
120℃/min(at 100℃)
溫控速度
±0.01℃/min
溫度分辨率
0.01℃ RTD傳感器
溫度穩(wěn)定性
±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
軟件功能
可設溫控速率,可設溫控程序,可記錄溫控曲線
電學參數
探針
默認為錸鎢材質的彎針探針
探針座
可從外部XYZ移動的探針臂
粗調模式+微調模式,微調行程2mm
點針
從外部移動點針,每個探針座都可點到樣品區(qū)上任意位置
探針接口
默認為BNC接頭,可選三同軸接口
樣品臺面電位
默認為電接地,可選電懸空(作背電極),可選三同軸接口
光學參數
適用光路
反射光路
窗片
可拆卸與更替的窗片
物鏡工作距離
12 mm *截面圖中WD
上蓋窗片觀察
窗片范圍φ50mm,視角±40° *截面圖中θ1
負溫下窗片除霜
吹氣除霜管路
結構參數
適用樣品
10 mm ~ 50 mm 直徑 (標準)
樣品腔高
8 mm
粗調模式+微調模式,XY粗調20mm
XY微調行程10mm,Z微調 3mm
氣氛控制
真空腔,也可充入保護氣體
外殼冷卻
可通循環(huán)水,以維持外殼溫度在常溫附近
臺體尺寸/重量
300 mm x 300 mm x 40 mm / 4kg
配置列表
基本配置
真空型臺式探針臺、mK2000B溫控器
可選配件
安裝支架、液氮制冷系統(tǒng)、外殼循環(huán)水冷系統(tǒng)、顯微鏡頭、
真空系統(tǒng)、測試源表、三同軸BNC、臺面電懸空、樣品接電引線
可選型號
TP102SV-MPS
溫度范圍 -40℃ ~ 180℃,樣品區(qū),40mm*40mm
HCP421SV-MPS
溫度范圍 -190℃ ~ 400℃,樣品區(qū) 28mm*30mm
HCP402SV-MPS
溫度范圍 -190℃ ~ 400℃,樣品區(qū) 50mm*50mm
HP1000SG-MPS
溫度范圍 35℃ ~ 1000℃,樣品區(qū) 25mm*25mm,氣密腔室
定制型號
按客戶需求定制,適用300mm晶圓樣品
典型應用
表征薄膜、二維材料、納米材料和分子/有機材料器件的電性能測試
需要加熱塊表面電接地、接同軸BNC接口、三同軸BNC接口的
需要鎢錸探針、鈹銅探針或其他材料的探針的
需要從外部對臺體內探針進行XYZ移動的
晶圓、半導體器件、集成電路、印刷電路板、光伏板、LCD/LED測試
測量IV和CV特性、擊穿電壓、漏電流、電阻、介電常數和二極管效率
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產品簡介
HCP421SV-MPS Instec的真空型mini臺式探針臺系列是可從外部移動探針進行點針的桌上型探針臺,涵蓋多型號、多溫度范圍。同時允許溫控、探針電測試、光學觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔,亦可內充入氮氣等保護氣體,來防止樣品在負溫下結霜,或高溫下氧化。
功能特點
mimi型溫控探針臺,可集成到各種光學設備
可編程控溫,涵蓋-190℃~1000℃(具體由型號而定)
適用 10 mm ~ 50 mm 晶圓和器件
可抽真空的腔體,亦可充入保護氣體使用
獨立的四個探針,可從設備外部移動探針進行點針
可從溫控器或電腦軟件控制,可提供軟件SDK
*可做定制或改動,詳詢上海恒商
溫控參數
溫度范圍
-190℃~400℃(負溫需配液氮制冷)
加熱塊材質
銀
傳感器/溫控方式
升溫速率
100Ω鉑RTD / PID控制(含LVDC降噪電源)
120℃/min(at 100℃)
溫控速度
±0.01℃/min
溫度分辨率
0.01℃ RTD傳感器
溫度穩(wěn)定性
±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
軟件功能
可設溫控速率,可設溫控程序,可記錄溫控曲線
電學參數
探針
默認為錸鎢材質的彎針探針
探針座
可從外部XYZ移動的探針臂
粗調模式+微調模式,微調行程2mm
點針
從外部移動點針,每個探針座都可點到樣品區(qū)上任意位置
探針接口
默認為BNC接頭,可選三同軸接口
樣品臺面電位
默認為電接地,可選電懸空(作背電極),可選三同軸接口
光學參數
適用光路
反射光路
窗片
可拆卸與更替的窗片
物鏡工作距離
12 mm *截面圖中WD
上蓋窗片觀察
窗片范圍φ50mm,視角±40° *截面圖中θ1
負溫下窗片除霜
吹氣除霜管路
結構參數
適用樣品
10 mm ~ 50 mm 直徑 (標準)
樣品腔高
8 mm
探針座
可從外部XYZ移動的探針臂
粗調模式+微調模式,XY粗調20mm
XY微調行程10mm,Z微調 3mm
氣氛控制
真空腔,也可充入保護氣體
外殼冷卻
可通循環(huán)水,以維持外殼溫度在常溫附近
臺體尺寸/重量
300 mm x 300 mm x 40 mm / 4kg
配置列表
基本配置
真空型臺式探針臺、mK2000B溫控器
可選配件
安裝支架、液氮制冷系統(tǒng)、外殼循環(huán)水冷系統(tǒng)、顯微鏡頭、
真空系統(tǒng)、測試源表、三同軸BNC、臺面電懸空、樣品接電引線
可選型號
TP102SV-MPS
溫度范圍 -40℃ ~ 180℃,樣品區(qū),40mm*40mm
HCP421SV-MPS
溫度范圍 -190℃ ~ 400℃,樣品區(qū) 28mm*30mm
HCP402SV-MPS
溫度范圍 -190℃ ~ 400℃,樣品區(qū) 50mm*50mm
HP1000SG-MPS
溫度范圍 35℃ ~ 1000℃,樣品區(qū) 25mm*25mm,氣密腔室
定制型號
按客戶需求定制,適用300mm晶圓樣品
典型應用
表征薄膜、二維材料、納米材料和分子/有機材料器件的電性能測試
需要加熱塊表面電接地、接同軸BNC接口、三同軸BNC接口的
需要鎢錸探針、鈹銅探針或其他材料的探針的
需要從外部對臺體內探針進行XYZ移動的
晶圓、半導體器件、集成電路、印刷電路板、光伏板、LCD/LED測試
測量IV和CV特性、擊穿電壓、漏電流、電阻、介電常數和二極管效率