價(jià)格
電議
型號
臺(tái)式PIDPotential Induced Degradation
品牌
布魯克
所在地
暫無
更新時(shí)間
2023-06-02 23:19:03
瀏覽次數(shù)
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京公網(wǎng)安備 11010802023672號
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
易PID和抗PID的太陽能電池重現(xiàn)性