微電阻計3540用于線圈或產(chǎn)線的電阻至高電阻測量 測量源:DC 短響應時間:100ms 采樣率: 16 次/秒 高分辨率:10μΩ 提供可選手動測試或系統(tǒng)應用測試 4端子方法測量mΩ電阻(快速100ms響應) 比較器功能多存儲7組表格 溫度補償功能,測量溫度并根據(jù)銅來計算20℃以下的對應值。 日置HIOKI 3540微電阻計基本參數(shù)
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微電阻計3540用于線圈或產(chǎn)線的電阻至高電阻測量
測量源:DC
短響應時間:100ms
采樣率: 16 次/秒
高分辨率:10μΩ
提供可選手動測試或系統(tǒng)應用測試
4端子方法測量mΩ電阻(快速100ms響應)
比較器功能多存儲7組表格
溫度補償功能,測量溫度并根據(jù)銅來計算20℃以下的對應值。
日置HIOKI 3540微電阻計基本參數(shù)
± 0.1%rdg. ± 6dgt.(30mΩ,3Ω量程)
± 0.1%rdg. ± 4dgt.(300mΩ,30Ω~30kΩ量程)
(-01-02和-03版本)
輸出:3檔(高,中,低),開路集電極,LED顯示,蜂鳴器警報