通過結(jié)國外同類產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn),本著實(shí)用、方便、測試精簡的宗旨，面向國內(nèi)外市場推出的數(shù)字IC參數(shù)測試儀（并且在不斷地完善之中）。該儀器特別適合，整機(jī)生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級(jí)進(jìn)廠測試。目前，對(duì)中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡單的邏輯功能測試，已不能滿足IC用戶的測試需求。數(shù)字IC多值邏輯測試儀，利用獨(dú)創(chuàng)的多值參數(shù)比較法，可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測試并同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測試。完全可以滿足IC用戶的參數(shù)測試要求。是一種性能實(shí)用、操作簡單、測試可信度高、成本低廉的測試儀器。
本系統(tǒng)的主要特點(diǎn) 
測試范圍及測試品種：28Pin 
　54系列； 74系列； 
　4500系列；4000系列；
　RAM 256K BIT
　EPROM 64K BIT
　C00 系列；

產(chǎn)品主要性能：
　在功能測試的基礎(chǔ)上 測試器件的輸入端注入電流。
　測試器件的功耗電流。 
　測試器件的輸入端交叉漏電流。 
　查找未知芯片型號(hào)。 
　測試器件的輸出端：三態(tài)“及”O(jiān)C“門。 可以單次測試，也可以循環(huán)測試。
　測試器件的輸出負(fù)載電流。 
　可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS（如：74C，74HC，74HCT等）。

本產(chǎn)品所提供的多值測試參數(shù)： 
　8種可選擇的測試電阻。
　可設(shè)置多種輸入端注入電流。 
　多種測試電壓比較值。 
　功耗測試。
　以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成的測試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。

測試模式：
　模式O：全組合參數(shù)測試。 
　模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測試參數(shù)數(shù)值。
　模式D：任選輸入負(fù)載電流及測試電源和輸入電流測試。 
　模式E：自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分，顯示，鍵盤及測試管腳電路。
　模式F：自編程測試.

  數(shù)字集成電路多值邏輯測試儀
　測試電源拉偏狀態(tài)下，輸出電平加載測試。

　對(duì)輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進(jìn)行測試的同時(shí)，完成真值表功能測試。

　真值表功能測試的同時(shí)，完成“三態(tài)”（高阻狀態(tài)）漏電流測試。

　對(duì)IC輸入電流、功耗電流測試。

　輸入漏電流及交叉漏電流測試。

　測試過程無須人工干預(yù)。

　用戶可以自選測試模式，使用方便、操作簡潔。

　可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件。

　可以查找未知IC的型號(hào)。