儀器名稱：
場(chǎng)發(fā)射高分辨率掃描電鏡(FESEM）

SEM掃描電鏡型號(hào)：
SEM（Tescan mira3, Zeiss sigma500 Zeiss Merlin Compact） EDS（OxfordX-MAX）

SEM掃描電鏡檢測(cè)項(xiàng)目：
表面形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可）， EDS能譜（點(diǎn)掃、線掃、面掃），elements Mapping，EBSD

SEM掃描電鏡應(yīng)用范圍：
固體樣品的微觀形貌、結(jié)構(gòu)，樣品的微區(qū)元素成分、線分布、面分布，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、化學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。

塊體、粉末、磁性、生物樣品都適用。

適合導(dǎo)電性不佳的樣品形貌觀察。

SEM掃描電鏡測(cè)試流程
1、客戶提出測(cè)試要求（在線預(yù)約）
2、細(xì)節(jié)溝通（聯(lián)系在線QQ）
3、下載填寫測(cè)試委托單
4、測(cè)試委托單和樣品郵寄
5、聯(lián)系客服付款
6、安心等待
7、接受數(shù)據(jù)發(fā)票
8、后期服務(wù)
以上是對(duì)于掃描電鏡測(cè)試的相關(guān)介紹，如有其它檢測(cè)需求可以咨詢實(shí)驗(yàn)室工程師，為您一對(duì)一服務(wù)。