5月18日—19日，由計量科學研究主辦的波長色散X射線熒光光譜儀校準技術研討會在昆山順利召開，此次會議的召開是為進一步聽取各方*及廠商對《波長色散X射線熒光光譜儀校準規(guī)范》制訂工作的意見。

會議邀請了行業(yè)*學者、科研所及該領域相關企業(yè)代表，就波長色散X射線熒光光譜儀技術發(fā)展趨勢、*進展、應用領域及校準技術等方面的問題進行了研討。

會議由天瑞公司波譜產品線負責人黃沖主持，并由天瑞儀器經(jīng)理應剛致歡迎詞，歡迎前來參會的老師及*。

天瑞儀器經(jīng)理應剛致歡迎詞

會議現(xiàn)場

 研討會上，意見征求互動環(huán)節(jié)現(xiàn)場氣氛熱烈，與會*們針對《波長色散X射線熒光光譜儀校準規(guī)范》修訂內容，從各個角度出發(fā)，進行了認真研討，積極發(fā)表了自己的意見并提供了寶貴的建議。其中黃沖做了《波長色散 X 射線熒光光譜儀的企業(yè)校準方法介紹》的專題報告，詳細介紹了天瑞儀器公司過去十年波譜研發(fā)過程中所結的波譜儀器測試方法，對比了《JJG 810-1993 波長色散X射線熒光光譜儀規(guī)程》和《ISO_TR 00》各自優(yōu)缺點，供各位*參考。

相信本標準的修訂，能有效促進該儀器的校準規(guī)范的升級和改進，繼而能更好的為市場服務。