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      2. 資料

        NEWS

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        半導(dǎo)體分力器件測試儀 型號VV522-CS2935

        發(fā)布時間:2025/02/13 14:46:41 發(fā)布廠商:東方化玻(北京)科技有限公司 >> 進入該公司展臺
        半導(dǎo)體分力器件測試儀 型號:VV522-CS2935

        庫號:D398111   


        半導(dǎo)體分立器件測試儀CS2935
        一、產(chǎn)品特點:
        測試品種覆蓋面廣、測試精度高、電參數(shù)測試全、速度快、有良好的重復(fù)性和一致性、工作穩(wěn)定,具有保護系統(tǒng)和被測器件的能力。測試儀由計算機操控,測試數(shù)據(jù)可存儲打印。除具有點測試功能外,還具有曲線掃描功能(圖示儀功能)。系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定、硬件故障率低,在實際測試應(yīng)用中各項指標(biāo)均可達到器件手冊指標(biāo)及國標(biāo)要求。
        二、測試參數(shù)
        1. 二極管
        VF、IR、BVR
        2. 穩(wěn)壓(齊納)二極管
        VF、IR、BV Z
        3. 晶體管 Transistor(NPN型/PNP型)
        VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
        4. 可控硅整流器(晶閘管)
        IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
        5. 場效應(yīng)管
        IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS
        6. 光電耦合器
        VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
        *7.三端穩(wěn)壓器
        VO、SV、ID、IDV
        被測器件圖形
        三、測試參數(shù)范圍
        晶體管
        測試參數(shù)
        測試范圍
        ICEO
        ICBO
        IEBO
        1nA-100nA
        100nA-1uA
        1uA-100uA
        100uA-10mA
        VCE(sat)
        VBE(sat)
        0.10V-30V
        VBE(VBE(on))
        0.10V-30V
        hFE
        1-99999
        V(BR)EBO
        0.10V-30V
        V(BR)CEO
        V(BR)CBO
        0. 10V-50V
        50V-1499V
        二極管
        測試參數(shù)
        測試范圍
        IR
        1nA-100nA
        100nA-1uA
        1uA-100uA
        100uA-10mA
        VF
        0.10V-30V
        V(BR)
        1V-50V
        50V-1499V
        穩(wěn)壓二極管
        測試參數(shù)
        測試范圍
        IR
        1nA-100nA
        100nA-1uA
        1uA-100uA
        100uA-10mA
        VF
        0.10V-30V
        VZ
        0.10V-50V
        三端穩(wěn)壓器
        測試參數(shù)
        測試范圍
        VO
        0.10V-30V
        SV
        0.10mV-1V
        ID
        1uA-10mA
        IDV
        1uA-10mA
        MOSFET
        測試參數(shù)
        測試范圍
        VGS(th)
        0.10V-30V
        gfs
        0.1mS-1000S
        RDS(on)
        10mΩ-100KΩ
        VDS(on)
        0.10V-50V
        IGSS
        1nA-100nA
        100nA-1uA
        1uA-100uA
        100uA-10mA
        IDSS
        1nA-100nA
        100nA-1uA
        1uA-100uA
        100uA-10mA
        ID(on)
        0-50A
        V(BR)GSS
        0.1V-30V
        V(BR)DSS
        0.1V-1499V
        光耦
        測試參數(shù)
        測試范圍
        VF
        0.10V-30V
        IR
        1nA-100nA
        100nA-1uA
        1uA-100uA
        100uA-10mA
        VCE(sat)
        0.10V-50V
        CTR
        0.1%-1000%
        ICEO
        與IR參數(shù)相同
        V(BR)ECO V(BR)CEO
        0.10V-50V
        50V-1499V
        可控硅
        測試參數(shù)
        測試范圍
        IGT
        10uA-200mA
        VGT
        0.10V-30V
        IH
        10uA-1A
        IL
        10uA-1A
        VTM
        0.10V-50V
        四、指標(biāo)
        1、源的指標(biāo)
        主極壓流源 (VA)
        電壓:
        設(shè)定范圍(V)

        ±(0~10)
        ±(14.6mV+0.5%set)
        ±(10~50)
        ±(73.2mV+0.5%set)
        電流:
        測量范圍

        ±(0-50)uA
        ±(244nA+0.5% set)
        ±(50-500) uA
        ±(2.44uA+0.5% set)
        ±(0.5-5) mA
        ±(24.4uA+0.5% set)
        ±(5-50) mA
        ±(244uA+0.5% set)
        ±(50~500) mA
        ±(2.44mA+0.5%set)
        ±(0.5~5)A(脈沖)
        ±(24.4mA+0.5%set)
        ±(5-50)A(脈沖)
        ±(244mA+0.5%set)
        壓流源 (VB)
        電壓:
        設(shè)定范圍(V)

        ±(0~10)
        ±(14.6mV+0.5%set)
        ±(10~30)
        ±(43.8mV+0.5%set)
        電流:
        測量范圍

        ±(0-50)uA
        ±(244nA+0.5% set)
        ±(50-500) uA
        ±(2.44uA+0.5% set)
        ±(0.5-5) mA
        ±(24.4uA+0.5% set)
        ±(5-50) mA
        ±(244uA+0.5% set)
        ±(50~500) mA
        ±(2.44mA+0.5%set)
        ±(0.5~5)A(脈沖)
        ±(24.4mA+0.5%set)
        ±(5-50)A(脈沖)
        ±(244mA+0.5%set)
        高壓源(HV)
        設(shè)定范圍(V)

        0~1500
        ±(1.22V+1%set)
        *1500V時大輸出為5mA。
        2、電壓表的指標(biāo)
        測漏電流
        測量范圍

        ±(0~200)nA
        ±(2.44nA+0.5% Rdg)
        ±(0.2-2)uA
        ±(24.4nA+0.5% Rdg)
        ±(2-20)uA
        ±(244nA+0.5% Rdg)
        ±(20~200) uA
        ±(2.44uA+0.5% Rdg)
        ±(0.2~2)mA
        ±(24.4uA+0.5% Rdg)
        ±(2-20)mA
        ±(244uA+0.5% Rdg)
        測試電壓
        設(shè)定范圍(V)

        ±(0~10)
        ±(3mV+0.5% Rdg)
        ±(10~50)
        ±(15mV+0.5% Rdg)
        測擊穿電壓
        設(shè)定范圍(V)

        (0~50)V/10mA
        ±(36.6mV+0.25% Rdg)
        (50~1500)V/1mA
        ±(610.3mV+1% Rdg)
        放大倍數(shù)
        設(shè)定范圍(V)

        1~9999
        1%



        半導(dǎo)體分力器件測試儀
        半導(dǎo)體分力器件測試儀
        半導(dǎo)體分力器件測試儀
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