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      2. Tomo X射線斷層掃描復(fù)合式三坐標(biāo)測量機

        價格
        電議

        型號
        Tomo X三坐標(biāo)測量機

        品牌
        德國Werth

        所在地
        暫無

        更新時間
        2023-07-24 19:24:07

        瀏覽次數(shù)

          Tomo X射線斷層掃描復(fù)合式三坐標(biāo)測量機
          德國Werth測量技術(shù)公司創(chuàng)立于1951年,部位于德國的大學(xué)城吉森。世界上個數(shù)顯游標(biāo)卡尺就出自Werth。TOMO X-CT測量機,全球家將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng),實現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化準(zhǔn)確測量,并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測量,同時可實現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析??蓪λ芰?、陶瓷、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時,保證了高品質(zhì)的要求。此機榮獲2005年度歐洲模具設(shè)計金獎。

          Tomo測量機主要特點:
          ◆  全球首家將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng),實現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測量
          ◆  可選配第二個Z軸,配置其他傳感器(光學(xué)、探  針、光纖、激光等)
          ◆ Werth公司技術(shù)復(fù)合式傳感器技術(shù),進一步保證 CT測量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確
          ◆ 堅固的花崗巖基座,保證機器具有高穩(wěn)定性
          ◆ 高精密機械軸承技術(shù)及線性導(dǎo)軌系統(tǒng),確保實現(xiàn)  高精度的測量
          ◆ 無論從設(shè)計還是結(jié)構(gòu),測量機完全滿足并出X射線使用安全標(biāo)準(zhǔn)
          ◆ 基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構(gòu)技術(shù),測量速度更快 
          ◆  Werth公司技術(shù)的X射線傳感器獨立校準(zhǔn)系統(tǒng)
          ◆  Werth公司技術(shù)的柵格斷層掃描技術(shù):
                  精密測量微小部件
                  掃描更大尺寸工件,提高分辨率
                  擴展測量范圍
          ◆  測量軟件可快速3D重構(gòu),也可進行2D測量
          ◆  測量工件內(nèi)部尺寸的同時,也可實現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析
          ◆  選用全球廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件 (德國PTB長度標(biāo)準(zhǔn)) ,界面友好,操作簡單
          ◆  可使用佳擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對
          ◆  廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測量,首件評估,逆向工程,質(zhì)量控制等

          應(yīng)用領(lǐng)域:  模具行業(yè)、逆向工程、汽車行業(yè)、航空航天、精密機械加工、船舶等

          技術(shù)參數(shù):
           

          型    號

          TomoScope

          TomoCheck

          TomoScope

          HV Compact

          TomoScope HV

          大測量工件尺寸(直徑)

          90mm

          90mm

          350mm

          350mm

          大測量高度

          200mm

          200mm

          350mm

          500mm

          大允許誤差 (用CT傳感器)

          (45+L/75) µm

          (15+L/500) µm

          (45+L/75) µm

          (45+L/75) µm

          大允許誤差(E1:單軸精度)

          (25+L/120) µm

          (05+L/900)µm

          (25+L/120) µm

          (25+L/120) µm

                    (E2:平面精度)

          (29+L/100) µm

          (07+L/600) µm

          (29+L/100) µm

          (29+L/100) µm

                    (E3:空間精度)

          (45+L/75) µm

          (15+L/500) µm

          (45+L/75) µm

          (45+L/75) µm

          X射線源

          130kV(150190kV可選)

          130kV

          225kV

          225kV(450kV可選)

          X射線探測器像素

          1024x1024

          1024x1024

          1024x1024

          2048x2048

          X射線探測器尺寸

          50x50mm

          50x50mm

          200x200mm

          400x400mm

          分辨率

          0.1µm

          0.1/0.01µm

          0.1µm

          0.1µm

          定位速度

          150mm/s

          60mm/s

          150mm/s

          150mm/s

          加速度

          300mm/s2

          250 mm/s2

          350 mm/s2

          350 mm/s2

          工作臺承重

          2kg

          10kg

          40kg

          40kg

          電源

          230V +/-10%

          3x400V/N/PE

          3x400V/N/PE

          3x400V/N/PE

          氣壓

          7-10bar

          7-10bar

          7-10bar

          7-10bar

          儀器自重

          3000kg

          6000kg

          8500kg

          11000kg


          1). 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 10360和VDI/VDE 2617,使用TP200 WFP測量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學(xué)傳感器選用同等及更高精度探針修正
          2). Temp: 20℃±2k △=1K/h m≤2kg

           

          應(yīng)用實例:

           

          以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),儀器儀表交易網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
          溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險,建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。

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