• 用于晶片摻雜的C-V測量
• 變容二極管的C-V表征和分類。
• 射頻混頻器和轉換二極管的電容測試。
• 通過進廠檢驗的應用直流偏置測試電容器。
• 測量時間：10ms/20ms/30ms
• 測量精度：0.1%（20ms）
• 內部直流偏置：0至+/-38V，0.1%可編程掃描
• 測量范圍：0.00001pF至1280pF

Keysight 4279A 1MHz C-V表在測量半導體的電容和偏置電壓特性方面，是提高測量質量和吞吐量的佳解決方案。Keysight 4279A在掃描直流偏置電壓的同時，可測量0.00001pF至1280.00pF范圍的電容，基本精度為0.1%，顯示分辨率為6位。因為偏置電壓不確定度很低，所以在+/-38V范圍內，電壓精度達0.1%的內部可編程直流偏置掃描源可確保非常少的測量錯誤。這使Keysight 4279A成為了表征和測試變容二極管、MOS二極管等的器件理想工具。測量時間具有三種可選模式：10ms、20ms和30ms/meas，以達到大生產(chǎn)效率。Keysight 4279A的快速量程選擇和高速GP-IB數(shù)據(jù)傳輸能力可以縮短測試時間。